X射线多晶衍射数据RIETVELD精修及GSAS软件入门

X射线多晶衍射数据RIETVELD精修及GSAS软件入门

郑振环,李强编
دا کتاب تاسو ته څنګه خواښه شوه؟
د بار شوي فایل کیفیت څه دئ؟
تر څو چې د کتاب کیفیت آزمایښو وکړئ، بار ئې کړئ
د بار شوو فایلونو کیفیتی څه دئ؟
Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章,侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试,并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书具有很强的实用性,可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书,也可以作为本科生、研究生教学的实验教材.
درجه (قاطیغوری(:
کال:
2016
خپرندویه اداره:
中国建材工业出版社
ژبه:
chinese
صفحه:
120
ISBN 10:
7516014567
ISBN 13:
9787516014561
فایل:
PDF, 24.12 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
chinese, 2016
کاپی کول (pdf, 24.12 MB)
ته بدلون په کار دي
ته بدلون ناکام شو